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薄膜厚度輪廓測量儀 α-step

α-step, KLA Tencor/Alpha step D-300

 / 薄膜厚度輪廓測量儀 

技術人員  郭政霆 (05)2720411#23340

E-mail: Xburnerair252@gmail.com

指導教授  機械系 張國恩教授 (05)2720411#33324

E-mail: imegec@ccu.edu.tw 

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儀器概述

藉由探針掃描試片表面之高低差異,利用感測器記錄針尖垂直運動訊號,經轉換與運算繪製剖面圖,進而得知膜厚與表面粗糙度。

 

儀器規格

  1. 探針: 2 μm 60 deg / 5 μm 60 deg
  2. 探針掃描速度:0.01 mm/s~0.4 mm/s
  3. 樣品載台:直徑14 cm手動載台,可360度轉動
  4. 最大掃描高度:1000μm
  5. 最大掃描長度:30mm

 

服務項目

可由階差量測薄膜厚度或深度

 

取樣應注意事項

  1. 樣品不可具有水分、毒性、腐蝕性、揮發性。
  2. 試片尺寸直徑最大不超過8 cm、厚度2 cm 

 

預約注意事項

  1. 使用本儀器,請於預約前先聯絡,並填寫申請表格。
  2. 若因試片處理不當或儀器操作不當造成機台損壞或污染,須負賠償責任,賠償費用由原廠評估。
  3. 探針抬升後,才可以移動工作平台。
  4. 量測過程勿搖晃機台。
  5. 試片換區域時皆需先抬針。
  6. 自行操作上述各項儀器者,免收取儀器代工費用,僅收取儀器使用費。
  7. 無法自行操作上述各項儀器者,需收取代工費用250/時和儀器使用費。
  8. 系上、機械系及奈米中心之儀器收費為校內收費之7折。
  9. 數據存儲請自備光碟,如需空白光碟每片10元。

 

放置地點

國立中正大學機械系實習工廠310

服務時間

每周開放代工時間為:週三10:00-17:00

儀器預約單

國立中正大學光電奈米結構及元件實驗室量測預約申請單(LAB 307 Equipment Reserving Form)

 

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