薄膜厚度輪廓測量儀 α-step
α-step, KLA Tencor/Alpha step D-300
/ 薄膜厚度輪廓測量儀
技術人員 劉承峰 (05)2720411#23340
E-mail: com299061111@gmail.com
指導教授 機械系 張國恩教授 (05)2720411#33324
E-mail: imegec@ccu.edu.tw
儀器概述
藉由探針掃描試片表面之高低差異,利用感測器記錄針尖垂直運動訊號,經轉換與運算繪製剖面圖,進而得知膜厚與表面粗糙度。
儀器規格
- 探針: 2 μm 60 deg / 5 μm 60 deg
- 探針掃描速度:0.01 mm/s~0.4 mm/s
- 樣品載台:直徑14 cm手動載台,可360度轉動
- 最大掃描高度:1000μm
- 最大掃描長度:30mm
服務項目
可由階差量測薄膜厚度或深度
取樣應注意事項
- 樣品不可具有水分、毒性、腐蝕性、揮發性。
- 試片尺寸直徑最大不超過8 cm、厚度2 cm
預約注意事項
- 使用本儀器,請於預約前先聯絡,並填寫申請表格。
- 若因試片處理不當或儀器操作不當造成機台損壞或污染,須負賠償責任,賠償費用由原廠評估。
- 探針抬升後,才可以移動工作平台。
- 量測過程勿搖晃機台。
- 試片換區域時皆需先抬針。
- 自行操作上述各項儀器者,免收取儀器代工費用,僅收取儀器使用費。
- 無法自行操作上述各項儀器者,需收取代工費用250元/時和儀器使用費。
- 系上、機械系及奈米中心之儀器收費為校內收費之7折。
- 數據存儲請自備光碟,如需空白光碟每片10元。
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國立中正大學機械系實習工廠310室。
服務時間
每周開放代工時間為:週三10:00-17:00。
儀器預約單
國立中正大學光電奈米結構及元件實驗室量測預約申請單(LAB 307 Equipment Reserving Form)。